M4000 PLUS 全譜直讀光譜儀

性能優(yōu)勢

科研級CMOS檢測器，全元素分析，開創(chuàng)PPM級元素分析新紀元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小，抗干擾強，具備防光暈技術

抗干擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像素信號單獨讀取，實現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設計

紫外響應高 高紫外響應靈敏度，無需鍍膜，實現(xiàn)非金屬元素（N，C，S，P）分析，效果更優(yōu)

密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)

光室密封性優(yōu)異，可保持內(nèi)部氬氣長期純凈

分析環(huán)境相當于真空光室10-3Pa，優(yōu)化了短波元素的分析性能

氬氣循環(huán)過濾裝置，有利于濾除空氣分子，提高光室的可靠性

光室內(nèi)外壓力差幾乎為零，有利于避免大氣壓力引起的光學系統(tǒng)漂移進而提高產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性

降低充氬系統(tǒng)的氬氣消耗，有效節(jié)約生產(chǎn)成本

穩(wěn)定性升級，重新定義光學產(chǎn)品穩(wěn)定性

壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力處理

光室恒溫設計，保證光譜位置長期穩(wěn)定，不漂移

氣流路的精確設計，一切為了結果更穩(wěn)定

RTMC光譜優(yōu)化技術，帶來更穩(wěn)定的體驗

全數(shù)字脈沖光源，自動選擇能量保證分析的準確性與重復性

高性能，更高效，提升適用性

方便的樣品激發(fā)臺

開放式激發(fā)臺，內(nèi)部體積進一步縮小，氬氣消耗大大降低

四路氬氣吹掃，有效清除殘留粉塵，降低激發(fā)臺維護量

個性化的的樣品夾具

可適用于分析各類大小形狀的樣品

人性化的一鍵式激發(fā)/停止按鈕

樣品裝載激發(fā)一氣呵成，無需軟件操作，直接得到數(shù)據(jù)結果

檢測時間大大縮短，有效提升工作效率

易用性升級，給用戶更簡單、高效的使用體驗

性能優(yōu)異的硬件與特定算法的結合，多重穩(wěn)定保障，更優(yōu)地監(jiān)控儀器運行狀態(tài)，提升分析效果，減少校準頻率

支持全譜分析檢測，拓展性更高。增加分析基體和元素無需增加硬件，通過軟件即可擴展分析范圍，使用更靈活

智能曲線功能可滿足對材料的分析需求，真正實現(xiàn)未知樣品分析，無需糾結模型選擇，操作更加簡便

友好的人機交互設計，軟件主界面簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學會并熟練操作軟件

新增遠程維護功能，可遠程升級固件程序，遠程檢查儀器狀態(tài)，對儀器生命周期健康負責 

應用領域

應用于冶金、鑄造、機械加工、鑄造、金屬材料科研、航空航天、造船、汽車、海關檢驗、第三方檢測等諸多領域。