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            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針

            描述:德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針,採用標(biāo)準(zhǔn)的M5螺紋,從而可以輕鬆互換測量頭和加裝延長桿。另外,針對特殊的需要,還可以量身訂製專門的探針。

            更新時間:2025-04-03
            訪問次數(shù):168
            廠商性質(zhì):代理商
            詳情介紹

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針 

             

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針創(chuàng)新技術(shù)

            在許多復(fù)雜的測量應(yīng)用中,需要結(jié)合應(yīng)用以型面為基礎(chǔ)和以點為基礎(chǔ)的三維測量。GOM接觸式探針可作為附件加裝ATOS三維掃描儀上使用:

            ·        ? 全局測量和探觸式探針測量

            ·        ? 測量不易達及的區(qū)域

            ·        ? 直接CAD 數(shù)據(jù)進行比較

            ·        ? 測量各種規(guī)則幾何形狀(基元)

            ·        ? 快速測量各個單點

            ·        ? 在線對齊

            GOM接觸式探針上具有一組經(jīng)過標(biāo)定的參考點標(biāo)。使ATOS三維掃描儀,可以對這組參考點標(biāo)的坐標(biāo)進行光學(xué)追蹤ATOS測量系統(tǒng)可提供一個多邊形網(wǎng)格,這個多邊形網(wǎng)格精確描述了任意形狀表面,并顯示接觸式探針的在線三維坐標(biāo)。

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針 


            GOM Probe 特性

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針 

            掃描和探觸式測量的結(jié)合

            ATOS測量系統(tǒng),應(yīng)用動態(tài)參照技術(shù),因此允許自由移動或定位被測物體及測量頭。測量頭和被測物體不受相對固定關(guān)係的牽制,這便于按測量系列進行靈活的全位測量,省去重複夾持測量頭和工件的繁瑣操作。

            輕便上手GOM探針均重100克,便于長時間測量,還適用于較大的測量項目。探針內(nèi)部沒有電子元件或線纜,保證了使用的穩(wěn)定性及自由度。

            配套的硬件和軟件

            ATOS和探針測量是用同一測量系統(tǒng)進行測量,用同一軟件進行評估。不需要額外的硬件或追蹤器,便可快速完成測量。另外,使用配套的軟件,便于在不同測量和檢測界面間進行切換。

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針 

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針 

            小型到大型物體的測量

            針對大小不同的工件,GOM公司備有五種標(biāo)準(zhǔn)接觸式探針以供選用。比如要測量小型注塑零件,可以使PM1.5型探針;要測量大型鑄件的冷卻通道,則使PM18型探針。

            有效的接觸式探針設(shè)計,可以滿足不同的應(yīng)用需求。PM3  PM18型接觸式探針採用標(biāo)準(zhǔn)M5螺紋,從而可以輕鬆互換測量頭和加裝延長桿。另外,針對特殊的需要,還可以量身訂製專門的探針。

            在線測量

            使GOM公司提供的適配器,給在線測量提供了進一步的可能性:

            ? 對齊部件

            ? 調(diào)整固定裝置

            ? 確定修剪和回彈

            ? 快速在線測量規(guī)則幾何形狀及其各種邊緣

            德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針 

             


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