描述：德國蔡司 Axio Vert.A1光學(xué)顯微鏡可以使用傳統(tǒng)和高級的觀察方式檢測大而重的樣品?？奢p松在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和反射偏光等觀察方式之間切換。在透射光觀察中，可使用明場、偏光和相差?；蛘邔追N觀察方式結(jié)合起來以獲取更多的附加信息。
顯微結(jié)構(gòu)和結(jié)構(gòu)分析：觀察方式問題。
德國蔡司 Axio Vert.A1光學(xué)顯微鏡可以使用傳統(tǒng)和高級的觀察方式檢測大而重的樣品?？奢p松在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和反射偏光等觀察方式之間切換。在透射光觀察中，可使用明場、偏光和相差。或者將幾種觀察方式結(jié)合起來以獲取更多的附加信息。
5 位編碼型物鏡轉(zhuǎn)盤能夠自動識別物鏡改變。通過光路管理器調(diào)節(jié)光強(qiáng)?，F(xiàn)在，您可以高效量化結(jié)構(gòu)信息，評估材料特性和質(zhì)量。獲取有價值的新信息，以及優(yōu)化制備或生產(chǎn)流程。然后采取相應(yīng)措施。
使用各種物鏡快速成像
不同應(yīng)用需要使用不同的物鏡。利用 Axio Vert.A1 的 5 位編碼物鏡轉(zhuǎn)盤可隨時選擇合適的放大倍率。節(jié)省時間和消除誤差來源：這種編碼方式允許 Axio Vert.A1 自動識別物鏡。
適用于各種細(xì)節(jié)成像的觀察方式
Axio Vert.A1 提供各類常用觀察方式：使用反射光觀察時，借助 4 位反射光鏡模塊轉(zhuǎn)盤，可以在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和偏光觀察方式之間進(jìn)行快速方便地切換，用于檢測諸如鎂和鋁等各向異性材料。切換至透射光觀察時，可以使用明場、偏光或相相差觀察方式。
重復(fù)性測量與比較
使用分度線和結(jié)構(gòu)比較板進(jìn)行測量和計數(shù)。此外，卡爾·蔡司 AxioVision 成像軟件可以提供一系列功能強(qiáng)大的模塊用于檢測，例如：晶粒度、多相分析、膜厚度測量和交互式測量。
