描述：德國蔡司用于偏光Axio Imager 2光學(xué)顯微鏡采用特殊設(shè)計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準(zhǔn)線和可變光闌同時可見。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設(shè)備時。
程序簡便、操作可靠
您是否正在尋找一款能夠完成復(fù)雜任務(wù)、生成可靠檢測結(jié)果且易于操作的顯微鏡？那么用于偏光顯微觀察的智能型 Axio Imager 將是您的滿意之選。
不同種主機架可供選擇
編碼型、部分電動型或全電動型主機組合搭配，滿足您的個性化需求。
自動組件識別技術(shù)值得信賴
自動組件識別（Automatic Component Recognition ACR）技術(shù)，使您方便的使用顯微鏡設(shè)置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。此外，ACR 技術(shù)還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進行登記。
無振動設(shè)計確?？煽康拈L時間成像
借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉(zhuǎn)盤、z 軸升降臺和載物臺被設(shè)計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結(jié)構(gòu)設(shè)計能夠創(chuàng)建理想的測量條件，以獲得超高質(zhì)量的觀測結(jié)果。
擴展功能令操作更舒適
簡化復(fù)雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。
保存?zhèn)€性化設(shè)置并實現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學(xué)設(shè)計的觸控式按鈕。
或者通過任意擺放的控制面板（可與主機架分離）來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設(shè)置，以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結(jié)果。
錐光觀察技術(shù)：使用偏光顯微鏡可以實現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析
偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設(shè)計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準(zhǔn)線和可變光闌同時可見。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設(shè)備時。
始終如一的測量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標(biāo)尺的旋轉(zhuǎn)、球軸安裝式載物臺可以輕松實現(xiàn)測量，（例如：用于測量礦物的解理角）
光程差測定或應(yīng)變測量
大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。
固定光程差的補償器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋轉(zhuǎn)角度 +/- 8°
具有可變光程差的補償器
光楔補償器 0-4 λ
測量補償器
- Berek 傾斜補償器 0-5 λ
- Berek 傾斜補償器 0-30 λ
Axio Imager 還可提供更多方法，例如：
熱顯微技術(shù)
使用蔡司 AxioVision 軟件進行數(shù)字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）
